大竹 哲史
(オオタケ サトシ)
理工学部理工学科 DX人材育成基盤／知能情報システムプログラム 教授
専門：計算機科学（ディペンダブルシステム）
現在、人々はコンピュータ（大規模集積回路（LSI））に依存して生活しています。安全・安心・安定な社会を実現するには、そのディペンダビリティが不可欠です。LSIの高信頼化のための論理設計とテスト、そのアプリケーションに関する研究を行っています。
（１）LSIのテストパターン生成（ATPG）技術
微小遅延故障などのLSI微細化で生じる故障モードや、故障予知（劣化検知）に対応した高品質なテストパターンを生成する技術を研究開発しています。
（２）LSIのテスト容易化設計（DFT）技術
高品質なテストを行うために、論理レベル、レジスタ転送レベル、動作レベルなど、様々な設計抽象度におけるテスト容易化設計に関する技術を研究開発しています。
（３）LSIのフィールド高信頼化技術に関する研究
長期間にわたって使用されるLSIは、劣化により故障が生じます。そのため、出荷前のテストだけでは不十分で、フィールドでも定期的にテストを行う必要があります。組込み自己テスト（BIST技術を応用し、フィールド劣化検知技術を研究開発しています）。
（４）非同期式回路に関する研究
現在広く使用されているクロック同期式のLSIに対し、劣化耐性や低消費電力性などの特性をもつ非同期式回路について、その設計とテストの技術を研究開発しています。
（５）IoTシステムの実装
実際にIoTシステムを構築し、実環境でのデータ収集と解析による産業や社会、医療における課題解決を図ると同時に、IoTシステム自体のフィールド高信頼化やIoTデバイスの低消費電力化に関する技術も研究開発しています。
